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英國Elcometer456分體式涂層測厚儀,易高456系列測厚儀
英國易高Elcometer456涂層測厚儀儀器分為4個類型:E型、B(基本型)、S(標(biāo)準(zhǔn)型)、T(高級型),從zui初的易高456E型到現(xiàn)在的456T型,儀器功能不斷增加,456T型帶有記憶、字母數(shù)字組合記錄數(shù)據(jù)批次和藍(lán)牙傳輸功能。
英國易高Elcometer 456測量涂層厚度更快、更可靠、更準(zhǔn)確。分體式提供多種探頭,測量機(jī)動性更強(qiáng)。所有探頭可互相更換,鐵基儀器可接受任何鐵基探頭,非鐵基儀器可接受任何非鐵基探頭,兩用儀器可接受所有鐵基探頭、非鐵基探頭及兩用探頭。
Elcometer456鐵基分體式儀器 | - | A456CFBS | A456CFSS | A456CFTS |
Elcometer456非鐵基分體式儀器 | - | A456CNBS | A456CNSS | A456CNTS |
Elcometer456兩用分體式儀器 | - | A456CFNFBS | A456CFNFSS | A456CFNFTS |
英國Elcometer456涂層測厚儀的主要功能包括:
簡便易用
讀數(shù)準(zhǔn)確
測量可靠
堅固
高效
功能強(qiáng)大
Elcometer 456 超聲/掃描探頭
掃描模式
選擇掃描模式*后,用戶可在整個表面區(qū)域內(nèi)滑動超聲/掃描探頭。 探頭離開表面時,該測厚儀顯示平均涂層厚度值、zui高厚度以及zui低厚度值。 每組三個讀數(shù)(平均值、高、低值)可顯示在趨勢圖上并存儲于內(nèi)存中。
掃描期間,Elcometer 456顯示實時厚度讀數(shù)以及模擬柱狀圖,該圖展示與名義厚度以及任何用戶定義限值相關(guān)的厚度。
自動重復(fù)模式
當(dāng)超聲/掃描探頭在自動重復(fù)模式*下滑過涂層表面時,每半秒即可產(chǎn)生一個讀數(shù)。 單個讀數(shù)存儲在內(nèi)存中。
以每分鐘超過140條讀數(shù)的讀取率,自動重復(fù)模式可加快檢驗大片涂層區(qū)域。
超聲/掃描探頭
Elcometer 456超聲/掃描探頭具有經(jīng)久耐用的“卡入式”可換探頭蓋,這一革命性的設(shè)計使用戶可獲取單一讀數(shù)或快速掃描大塊表面區(qū)域,而不會損壞探頭或涂層。
在Elcometer 456掃描或自動重復(fù)模式*下,超聲/掃描探頭可使用戶在確保精確度的條件下,大大減少檢測時間。
超聲/掃描探頭使用補(bǔ)償功能+(Elcometer 456)時,可確保使用過程中任何探頭蓋的磨損均納入校準(zhǔn)過程中。 該儀器甚至可通知用戶何時更換探頭蓋。
計數(shù)平均模式
Elcometer 456 S型和T型均具有計數(shù)平均模式。 一旦用戶定義了一次點(diǎn)測過程中儀器的單個讀數(shù)量,儀器即可將單個讀數(shù)平均值存儲于內(nèi)存中。
固定數(shù)組大小
Elcometer 456高級型具有的固定數(shù)組大小功能可使用戶定義各數(shù)組中的zui大讀數(shù)量。 一旦達(dá)到zui大讀數(shù)量,儀器將自動開啟與之前數(shù)組相關(guān)的新數(shù)組(名稱—1、名稱—2等)。
符合標(biāo)準(zhǔn)與測試方法
SSPC PA2要求每次儀器點(diǎn)測至少三個讀數(shù),在10m2(~100ft2)范圍內(nèi)執(zhí)行五次點(diǎn)測。標(biāo)準(zhǔn)與測試方法通常描述儀器一次點(diǎn)測過程中獲取的單一讀數(shù)量和/或已確定表面區(qū)域內(nèi)所需的點(diǎn)測量。
Elcometer 456 S型或T型可設(shè)置三個計數(shù)平均值及五個固定數(shù)組大小,以滿足此類要求。 各數(shù)組對應(yīng)一個測量區(qū)域。
連接超聲/掃描探頭到已選自動重復(fù)模式的Elcometer 456 T型后,SSPC PA2(或類似測試方法)的完成速度可提高40%。
Elcometer456分體式涂層測厚儀探頭介紹:
為滿足客戶的特定應(yīng)用要求,所有的Elcometer 456探頭*可互換,且提供大量的設(shè)計與刻度范圍。
鐵基探頭測量鐵磁基體上的非磁性涂層厚度。 Elcometer 456鐵基類儀器認(rèn)可任何鐵基探頭。 非鐵基探頭測量非鐵基金屬基體上的非導(dǎo)電涂層厚度,Elcometer 456非鐵基類儀器認(rèn)可任何非鐵基探頭。 兩用FNF探頭可同時用于鐵基和非鐵基應(yīng)用,具有自動識別基體功能。 Elcometer 456 FNF類儀器認(rèn)可所有鐵基、非鐵基以及兩用FNF探頭。
除非另有說明,Elcometer分體式探頭需在低達(dá)150°C(300°F)的環(huán)境中使用,PINIP探頭需在80°C(176°F)的環(huán)境下使用。
所有Elcometer探頭均帶有檢測證書以及一套適用于該探頭刻度范圍的校準(zhǔn)膜片。
| 測量范圍: | 0-1500μm (0-60mils) | 精確度*: | ±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil) |
分辨率: | 0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-1500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-60mils) |
探頭設(shè)計 |
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑† | |
直探頭 | 鐵基 F | T456CF1S | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 85mm (3.35") | 4mm (0.16") |
非鐵基 N | T456CN1S | 10mm (0.39") | 10mm (0.39") | 85mm (3.35") | 4mm (0.16") | |
兩用型 FNF | T456CFNF1S | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 26mm (1.02") | 12.5mm (0.49") | 88mm (3.46") | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 6mm (0.24") | |
直角探頭 | 鐵基 F | T456CF1R | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 28mm (1.10") | 4mm (0.16") |
非鐵基 N | T456CN1R | 10mm (0.39") | 14mm (0.55") | 28mm (1.10") | 4mm (0.16") | |
兩用型 FNF | T456CFNF1R | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 26mm (1.02") | 12.5mm (0.49") | 38mm (1.50") | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 6mm (0.24") | |
微型M5-90度探頭 | 鐵基 F | T456CFM5R90A | 3mm (0.12") | 6.5mm (0.26") | Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28") | 4mm (0.16") |
陽極氧化型 | 非鐵基 N | T456CN1AS | 10mm (1.38") | 14mm (0.55") | 100mm (3.94") | 4mm (0.16") |
PINIP探頭 | 鐵基 F | T456CF1P | 4mm (0.16") | 60mm (2.36") | 170mm (6.69") | 4mm (0.16") |
非鐵基 N | T456CN1P | 10mm (0.39") | 50mm (1.97") | 180mm (7.09") | 4mm (0.16") | |
兩用型 FNF | T456CFNF1P | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 26mm (1.02") | 65mm (2.56") | 180mm (7.09") | F Mode: 4mm (0.16") N Mode: 6mm (0.24") |
| 測量范圍: | 0-5mm (0-200mils) | 精確度*: | ±1-3% or ±20μm (±1.0mil) |
分辨率: | 1μm: 0-1mm; 10μm: 1-5mm (0.1mil: 0-50mils; 1mil: 50-200mils) | |||
| 在稀薄涂層上須具有更高的分辨率和準(zhǔn)確性,量程2鐵基探頭性能可轉(zhuǎn)化為量程1性能 |
| 測量范圍: | 0-13mm (0-500mils) | 精確度*: | ±1-3% or ±50μm (±2.0mils) |
分辨率: | 1μm: 0-2mm; 10μm: 2-13mm (0.1mil: 0-100mils; 1mil: 100-500mils) |
探頭設(shè)計 |
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑† | |
直探頭 | 鐵基 F | T456CF2S | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 89mm (3.50") | 8mm (0.32") |
非鐵基 N | T456CN2S | 100mm (3.97") | 150mm (5.90") | 88mm (3.46") | 14mm (0.55") | |
直角探頭 | 鐵基 F | T456CF2R | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 32mm (1.26") | 8mm (0.32") |
鎧裝探頭 | 鐵基 F | T456CF2ARM | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 138mm (5.43") | 8mm (0.32") |
可伸縮探頭 | 鐵基 F | T456CF2T | 4mm (0.16") | 25mm (0.98") | 36mm (1.42") | 8mm (0.32") |
軟涂層探頭 | 鐵基 F | T456CF2B | Flat Surface | Flat Surface | 89mm (3.50") | 8mm (0.32") |
防水探頭 | 鐵基 F | T456CF2SW-15 | 4mm (0.16") | 40mm (1.98") | 130mm (5.12") | 8mm (0.32") |
PINIP探頭 | 鐵基 F | T456CF2P | 4mm (0.16") | 60mm (2.36") | 174mm (6.85") | 8mm (0.32") |
非鐵基 N | T456CN2P | 100mm (3.97") | 150mm (5.90") | 185mm (7.28") | 14mm (0.55") | |
高溫探頭 250°C (480°F) | 鐵基 F | T456CF2PHT | 4mm (0.16") | 60mm (2.36") | 174mm (6.85") | 8mm (0.32") |
| 測量范圍: | F: 0-25mm (0-980mils) | 精確度*: | ±1-3% or ±100μm (±4.0mils) |
N: 0-30mm (1200mils) | ||||
分辨率: | 10μm: 0-2mm; 100μm: 2-30mm (1mil: 0-100mils; 10mils: 100-1200mils) |
探頭設(shè)計 |
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑† | |
直探頭 | 鐵基 F | T456CF3S | 15mm (0.59") | 40mm (1.57") | 102mm (4.02") | 14mm (0.55") |
PINIP探頭 | 鐵基 F | T456CF3P | 15mm (0.59") | 45mm (1.77") | 184mm (7.24") | 14mm (0.55") |
量程 7 | 范圍: F: | 0 - 31mm (0 - 1220mils) | 精確度*: | ±1-3% or ±100µm (±4.0mil) |
分辨率: | 10μm: 0-2mm; 100μm: 2-31mm (1mil: 0-100mils; 10mils: 100-1220mils) |
探頭設(shè)計 |
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑† | |
直探頭 | 鐵基 F | T456CF6S | 35mm (1.40") | 170mm (6.70") | 150mm (5.90") | 51 x 51mm² (2 x 2 sq. inch) |
非鐵基 N | T456CN6S | Flat Surface | Flat Surface | 160mm (6.30") | 58mm (2.30") | |
鎧裝探頭 | 鐵基 F | T456CF6ARM | 35mm (1.40") | 170mm (6.70") | 190mm (7.48") | 51 x 51mm² (2 x 2 sq. inch) |
非 | T456CN6ARM | Flat Surface | Flat Surface | 200mm (7.87") | 58mm (2.30") |
| 測量范圍: | 0-500μm (0-20mils) | 精確度*: | ±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil) |
分辨率: | 0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-20mils) |
探頭樣式 |
|
|
| zui小凈空高度 | zui小樣本直徑† | |
鎧裝探頭 | 鐵基 F | T456CF7ARM | 40mm (1.58") | 170mm (6.70") | 200mm (7.87") | 55 x 55mm² (2.17 x 2.17 sq. inch) |
刻度0.5石墨 | 范圍 | 0-500μm (0-20mils) | 精確度* | ±1-3%或±2.5μm(±0.1mil) |
分辨率 | 0.1μm: 0-100μm;1μm: 100-500μm(0.01mil: 0-5mils;0.1mil: 5-20mils) |
探頭設(shè)計 |
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | zui小凈空高度 | zui小樣本半徑† | |
微型M3探頭 45mm (1.77") | 鐵基 F | T456CFM3---A | 1.9mm (0.07") | 6.5mm (0.26") | 6mm (0.24") | 3mm (0.12") |
非鐵基N | T456CNM3---A | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | 6mm (0.24") | 4mm (0.16") | |
微型M3-90度探頭 45mm (1.77") | 鐵基 F | T456CFM3R90A | 1.9mm (0.07") | 6.5mm (0.26") | Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28") | 3mm (0.12") |
非鐵基N | T456CNM3R90A | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28") | 4mm (0.16")
| |
微型M3-45度探頭 45mm (1.77") | 鐵基F | T456CFM3R45A | 1.9mm (0.07") | 6.5mm (0.26") | Headroom: 18mm (0.71") Width: 7mm (0.28") | 3mm (0.12") |
微型M3-90度角 150mm (5.90") | 鐵基F | T456CFM3R90C | 1.9mm (0.07") | 6.5mm (0.26") | Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28") | 3mm (0.12") |
非鐵基N | T456CNM3R90C | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | Headroom: 16mm (0.63") Width: 7mm (0.28") | 4mm (0.16") |
超聲/掃描探頭 | 范圍: 0-1500μm (0-60mils)+ |
精確度*^: ±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil) |
分辨率: 1μm: 0-1500μm (0-60mils) |
探頭樣式 |
|
凸面直徑 |
凹面半徑 |
zui小凈空高度 |
zui小樣本半徑 | |||||
zui小90°石墨 | 非鐵基 N | T456CNMG3R90A | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | Headroom: 16mm (0.63") | 4mm (0.16") | ||||
zui小90°石墨 150mm (5.90") | 非鐵基 N | T456CNMG3R90C | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | Headroom: 16mm (0.63") | 4mm (0.16") | ||||
zui小90°石墨 | 非鐵基 N | T456CNMG3R90E | 6mm (0.24") | 8.5mm (0.33") | Headroom: 16mm (0.63") | 4mm (0.16") | ||||
探頭樣式 |
|
| zui小凈空高度 | zui小樣本半徑† | ||||||
超聲/掃描探頭 | 鐵基F | T456CF1U | 85mm (3.50") | 5mm (0.59") | ||||||
兩用型 FNF | T456CFNF1U | 85mm (3.50") | 5mm (0.59") | |||||||
產(chǎn)品信息 |
| T456C23956 | 超聲/掃描探頭備用保護(hù)蓋(3/包)# |
0755-23501616